2014年4月1日 |
タクトタイムの短縮や工程の改善・統合による生産性の向上、業界初の測定器(サブピクセルレベルの一括測定)による技術革新、サイバネットシステムの持つ光学技術の粋を集めた解決策を、最先端のFPD の生産と開発に携わる皆様へ提案します。 |
サイバネットシステム株式会社(本社:東京都、代表取締役:田中 邦明、以下「サイバネット」)は、2014年4月16日(水)から18 日(金)にかけて東京ビッグサイトで開催される「第24 回 ファインテック ジャパン」に出展することをお知らせいたします。
近年、ディスプレイの高精細化が驚異的なスピードで進化しています。一方でディスプレイは世界規模の企業間競争が繰り広げられており、更なる高精細化・薄型化など市場からの性能要求の高度化に合わせたQCD の実現が大きな課題となっております。
サイバネットのFPD - AOI システムは、長年蓄積した光学技術に基づいたテクノロジーにより、高精細ディスプレイにおける複雑な現象を自動検証することができます。光学理論より導き出された結果を定量的に考察することにより品質が向上し、更には生産にかかるコストと時間を低減させ、所望のQCD を実現する環境を構築します。
今回の出展では、FPD - AOI システムによるQCD 実現をテーマに、タクトタイムの短縮や、工程の改善・統合による生産性の向上、業界初の測定器(サブピクセルレベルの一括測定)による技術革新など、サイバネットの持つ光学技術の粋を集めたソリューションを、最先端のFPD の生産と開発に携わる皆様へ提案します。
※サイバネットシステム(オプティカル事業部)の詳細については、下記Web サイトをご覧ください。
http://www.cybernet.co.jp/optical/
開催展名 | 第24回 ファインテック ジャパン |
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会期 | 2014年4月16日(水)〜18日(金) |
会場 | 東京ビッグサイト |
主催 | リード エグジビション ジャパン 株式会社 |
小間位置 | 12-38 |
「第24 回 ファインテック ジャパン」の詳細につきましては、下記Web サイトをご覧ください
http://www.ftj.jp/
自動検査による良否判定と定量評価、仕様ごとの製品供給や過剰品質抑制のためのソリューションをご紹介いたします。
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出展製品
製品特徴
※ お客様の検査内容と工程に合わせたカスタマイズが可能なため、現在の生産設備への置き換えも可能です。
当社独自の解析手法を用いることで、ディスプレイのサブピクセル単位のデータを正確に取得し、更なる高品質の製品開発へと繋げるための評価技術を用いた、ソリューションをご紹介いたします。
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製品特徴
サイバネットシステム株式会社は、科学技術計算分野、特にCAE(※)関連の多岐にわたる先端的なソフトウェアソリューションサービスを展開しており、電気機器、輸送用機器、機械、精密機器、医療、教育・研究機関など様々な業種及び適用分野におけるソフトウェア、教育サービス、技術サポート、コンサルティング等を提供しております。具体的には、構造解析、射出成形解析、音響解析、機構解析、制御系解析、通信システム解析、信号処理、光学設計、照明解析、電子回路設計、汎用可視化処理、医用画像処理など多様かつ世界的レベルのソフトウェアを取扱い、様々な顧客ニーズに対応しております。
また、企業が所有するPC/スマートデバイス管理の効率化を実現するIT 資産管理ツールをはじめ、個人情報や機密情報などの漏洩・不正アクセスを防止し、企業のセキュリティレベルを向上させるIT ソリューションをパッケージやサイバネットクラウドで提供しております。
サイバネットシステム株式会社に関する詳しい情報については、下記Web サイトをご覧ください。
http://www.cybernet.co.jp/